1  高速AD/DA技术发展

高速AD/DA技术的演进，是一个在采样率、精度、集成度三个核心维度上阶梯式突破的过程，其根本驱动力来自于现代无线通信、航空航天、高端测试测量等领域对更宽频谱与更智能处理的迫切需求。

随着光纤通信、5G/WiFi 7、雷达及高端示波器等前沿应用对信号带宽的需求持续攀升，对ADC转换速率的要求已经达到数GS/s至数十GS/s级别；而在有线通信、材料探查等尖端领域，部分先进设备更要求ADC具备数百GS/s级别的转换能力。在此趋势下，以Flash ADC为代表的单一核心架构，已无法通过渐进式改进实现“数量级”的性能跃升。

不同应用场景对“速度”和“精度”的多样化需求（Robertson，2015）

为此，技术演进路径发生了根本性转变。时域交织技术的成熟与应用，标志着设计思想从“更快的单核”转向“多核协同”。与此同时，混合架构（如融合噪声整形技术的NS-SAR）通过优势互补，在特定性能区间实现了对传统权衡边界的有效突破。

不同架构类型ADC的SNDR-转换速率（Murmann，2024）

高速AD/DA技术的不断演进，使其性能验证面临前所未有的挑战。当器件性能逼近物理极限，传统测试方法、设备与标准面临失准甚至失效的风险。因此，评估前沿器件的首要原则是：

测量系统的核心指标必须显著优于被测器件，以构建足够的“性能余量”。

在实际测试中，这一原则直接转化为对测试系统中信号链两端关键设备——信号源与频谱分析仪的极致要求和严苛考验。

 2  对信号源纯度的极致要求

信号源的性能是ADC动态测试的基准，其任何非理想特性都将直接“污染”测量结果。具体而言，主要体现在以下三个核心维度的挑战与对应要求上：

万里眼SG110矢量信号发生器的设计理念正是为了应对上述极致要求：

万里眼SG110矢量信号发生器

■ 6 kHz~110 GHz高频直出：

无需外部倍频链路，从源头避免额外失真与插损，为ADC/DAC提供纯净高频激励。

■ 卓越频谱纯度：

超低相位噪声（<-145dBc/Hz@1GHz offset 10kHz）；提供低频谐波抑制选件，有效隔离信号源自身失真，确保SFDR测量准确。

低频谐波抑制选件

 ■ 高功率与大动态范围：

输出功率高达+20dBm以上，并在全功率范围内保持优异线性度，可直接驱动ADC至满量程甚至过载点，无需外置放大器即可全面表征线性度、增益压缩等动态特性。

3  对频谱分析仪的严苛考验

频谱分析仪是观察DAC输出的“眼睛”，其性能直接决定了我们能否“看见”并“看清”器件的真实表现。面对高性能DAC，分析仪自身必须在以下方面接受考验：

为应对以上挑战，万里眼SA110信号与频谱分析仪的设计具备：

万里眼SA110信号与频谱分析仪

  ■  2Hz~110GHz 连续分析

无需外部混频，覆盖5G毫米波、卫星通信等前沿应用的测试需求，可完整捕获AD/DA器件的全部频谱成分（基波、谐波、宽带噪声），确保性能评估的全面性。

 ■ 极低噪声基底

超低显示平均噪声电平（-169dBm/Hz@1GHz）；优异的相位噪声（<-136dBc/Hz@1GHz offset 10kHz），可准确区分钟源与被测器件自身的噪声。

超低底噪

 ■ 快速扫频与高效计算：

创新快扫RBW滤波技术使扫频速度提升90%；提供丰富易用的测量功能，可直接获取功率、ACLR、IP3、相位噪声等关键参数；支持5GNR、WIFI系列等多种无线通信标准的测试能力，并能通过测量结果快速计算 AD/DA 动态性能的核心指标（SFDR、THD、SNR、SINAD、ENOB等）。

快速扫频界面

前沿AD/DA的测试要求测试系统——尤其是信号源与频谱分析仪——不仅要完成测量，更需定义测量的可信边界。

唯有在信号生成与分析两端构筑起坚实的“性能余量”，才能穿透不确定性的迷雾，真实揭示器件的性能极限，驱动设计迭代与系统创新。