01  224G SerDes 测试挑战

随着以太网单通道速率从 112 Gb/s 迈向 224 Gb/s，信号频率分量显著上移，时序裕量逼近物理极限，对测试系统能力提出了更为严苛的挑战。

高频信号观测挑战

在 224G 条件下，信号频谱扩展到更高频段，传输损耗成为最主要的物理限制。随着频率升高，趋肤效应加剧导体损耗，介质损耗也明显加重，使线路衰减显著提升，信号在到达封装或连接器前就可能出现严重的幅度下降和边沿退化。同时，电磁波长缩短到毫米级，封装与互连中的结构不连续更容易引起阻抗突变，造成反射并加剧眼图闭合。

趋肤效应导致损耗提升

这种频域空间的压缩增加了信号观测难度。测试系统必须在高频段维持幅频一致性，否则带宽不足或频响不平坦时，测量结果会被仪器特性主导，难以真实反映 SerDes 的信号质量。

抖动测量精度挑战

随着符号周期进一步缩短，224G SerDes 对时钟的抖动容限被压缩至飞秒量级。在 PAM4 调制方式下，电平间距本就有限，任何抖动成分的增加，都会直接侵蚀眼图开口并显著推高误码率。

抖动原理示意图

在如此有限的时间裕量下，系统必须提供低本底噪声和高精度抖动分析能力。若测试仪器本底抖动过高，或抖动分解能力与测量精度不足，测得的结果将难以真实反映被测链路的时序特性。

动态系统测试稳定性挑战

为弥补高频损耗和通道不确定性，224G SerDes 广泛采用前后向均衡、重定时及 FEC。这虽然提升了链路容限，但也带来功耗和系统复杂度的上升。温升会导致器件工作点、均衡状态和抖动特性随时间漂移，使系统行为呈现明显的时间相关性。

通过多类复杂均衡算法提升信号质量

传统人工调参难以快速跟踪这些变化，长时间测试不仅效率低下，也容易导致结果可重复性下降。系统必须在有限稳定窗口内快速完成参数调优和全流程验证，确保不同测试条件下结果具有一致性。

02 万里眼测试解决方案

在上述挑战下，万里眼224G SerDes测试解决方案以“看得清、测得准、调得快、测得全”四大能力，为高速互连验证提供完整解决方案。

看得清：高性能硬件平台

万里眼 ExWave TS090 高速实时示波器，具备 4通道、每通道90 GHz 实时带宽以及 200 GSa/s 实时采样率，能够覆盖 224G SerDes 信号所需的关键频谱范围，并在高频段保持足够的幅频一致性和时间分辨率。

这一硬件能力为 224G 条件下的眼图、抖动与波形细节提供了可靠的观测基础，避免因测试带宽不足或采样率受限而引入的测量失真。

目前国内唯一支持SerDes 224G 自动化测试的示波器平台

测得准：智能噪声抑制

传统高端示波器的噪声水平通常在 3–5 mV，而相关协议对噪声的要求已低至 0.9487 mV，测试系统本身极易成为测量精度的主要限制因素。

ExWave TS090 通过智能噪声抑制技术，在最大程度保留信号自身噪声特征的同时，实现信号噪声与仪器本底噪声的智能分离与仪器本底噪声的精准抑制，使测试结果不再被设备底噪所主导。该能力同时支持单端与差分信号测量，为 224G 条件下的抖动与噪声分析提供了可靠基础。

噪声抑制前

调得快：智能参数寻优

在 224G SerDes 中，加重与均衡参数之间呈现明显的强耦合特性，参数调整不存在固定公式或可直接套用的“对照表”。同时，SerDes 的加重/均衡参数通常采用分档可调而非连续可调方式，人工遍历和调优的时间成本随参数挡位数量增加呈指数级上升，且高度依赖工程经验。

ExWave TS090全球首创的智能参数寻优机制，基于接收端前端采集的、不包含 TX FFE 的离线原始数据，通过算法自动分析参数空间，快速搜索并定位全局最优加重与均衡组合，显著降低人工调参难度和测试周期，典型场景下测试效率提升百倍。

图片9：智能参数寻优前

测得全：全流程自动化

针对 224G SerDes 测试项目数量多、判据复杂、一致性要求高的特点，ExWave TS090 深度集成 IEEE P802.3dj 标准定义的全套测试模板与判定规则，全面覆盖 C2M / C2C / CR / KR 等高速互连应用场景。

用户完成连接后，系统可自动执行从信号捕获、指标测试到规范比对的完整测试流程，并生成结构化的分析测试报告，有效提升测试效率与结果一致性，降低人工操作带来的不确定性。

图片10：完整测试流程和分析报告

224G SerDes使系统设计、链路架构与测试验证之间的耦合程度显著加深，测试能力本身开始反向约束和定义可实现的系统边界。

更高速率的互连形态仍在持续探索之中，万里眼将以专业的产品和测试解决方案支撑新一代高速互连技术的发展，助力科技与产业持续进步。