趋势与挑战
相较于整机测试,WLAN SOC 芯片测试对仪表精度要求更为严苛,4096QAM 调制场景下,整机测试要求仪表残余 EVM 低于 - 48dB,而芯片测试需仪表残余 EVM 优于 - 50dB。此外,随着SoC芯片集成度不断提高,射频模块与处理器、内存及模拟IQ接口等外设的协同工作验证,已成为确保系统整体性能的关键环节。该场景普遍采用IQ分离测试模式,需要测试仪表搭载大带宽、高动态范围、低噪声的差分模拟IQ接口,实现对基带I、Q分量的独立校准和测试。
测试解决方案与竞争力
本方案基于万里眼信号源与频谱仪,构建面向Wi-Fi AP和终端的一体化测试平台,全面覆盖Wi-Fi 1~7协议,支持协议规定的全部功率、频谱、调制信号质量测量项,支持对信号频偏、采样率偏差、IQ offset、IQ mismatch等非理想因素的补偿,为Wi-Fi测试提供全面、专业的解决方案。同时,万里眼的SG系列矢量信号发生器和SA系 列信号与频谱分析仪还配备业界最大带宽的差分模IQ接口,让WLAN SOC测试变得更加简单。
全面支持Wi-Fi 1~7系列协议:
•全面支持Wi-Fi 1~7系列协议( IEEE 802.11 b/a/g/n/ac/ax/be)协议信号生成与测量
一键式最优参数匹配:
•Auto EVM功能,提供最佳的EVM测量性能
ACLR测量噪声消除:
•显著降低频谱仪底噪,实现极致的 ACLR 测量能力,最大可提升15dB+
IQ噪声消除:
•实现EVM极限性能测试: <-52dB@5GHz,320MHz带宽@Wi-Fi 7
业界最大宽带的模拟差分IQ接口:
•信号源2GHz,频谱仪1.28GHz
支持IQ Mismatch补偿:
•专业的均衡和跟踪补偿算法,满足芯片差分基带补偿测量
万里眼Wi-Fi一体化测试解决方案总结
万里眼Wi-Fi一体化测试解决方案,提供了完备的IEEE 802.11系列协议信号模拟与射频信号测试功能,支持Wi-Fi设备的研发、制造等多场景应用,提供领先的测试效率与极限性能指标,并方便用户进行测试问题定位与分析。
面向未来,万里眼将紧跟Wi-Fi标准演进和前沿技术发展,持续研究测试测量方法的创新,为客户提供成本更低、效率更高、测试更精准的解决方案。
万里眼Wi-Fi一体化测试解决方案可为客户带来如下价值:
极限测试能力:
仪表超高性能指标规格,确保产品极限性能测得真、量得准
适配未来技术演进:
测试平台支持超大模拟 IQ 带宽,充分满足 WiFi SOC 芯片宽带 DPD 开发验证需求,加速算法迭代开发