光电芯片测试解决方案
110G矢量网络分析仪业界领先的高频测试性能，LCA丰富的光源选项和极致性，RINA极低的RIN可测值，助力光电芯片测试更高效、精准
趋势与挑战
另外，光波长需覆盖O波段（面向DCI数据中心内互连等短距离传输）、C/L波段（面向DCI数据中心间互连、骨干网及长距DWDM传输）等多种波长光源，测试仪器配置复杂。
TIA/Drive测试解决方案
万里眼矢量网络分析仪可用于光模块TIA/Driver测试解决方案，具备如下特点：
高动态：
•120dB @67 GHz高系统动态范围
高精度：
•自研去嵌算法降低测量不确定度
高稳定性：
•温度系数<0.05dB/°C @67G
高测试效率：
•超高速DDS扫频源+灵活的扫频 控制算法，实现高速扫描：22mS@201点，10kHz IFBW
光电/电光/光光芯片解决方案
万里眼LCA光电测试方案以“丰富光源选项 + 极致测试性能”为核心价值，面向光电芯片及光电/电光/光光器件提供高效、精准的一体化测试平台：
丰富光源：
•内置双光源并支持外置光源输入，波长覆盖C/L波段可调谐、O波段，外置光源支持多模850 nm等。
矢量网络分析仪系统动态范围：
•基于大功率、低底噪矢量网络分析仪，矢量网络分析仪系统动态范围达120 dB@67 GHz；
优秀的频响测试精度：
•通过电+光联合校准与光+电系统联动优化，频响测试精度领先，相位不确定度±2°@67 GHz，相对/绝对频率响应不确定度分别为±1.5 dB/±1.5 dB，频率响应可重复性±0.25 dB。
激光器RIN/FN噪声测试解决方案
RINA用于激光器RIN噪声测试，FNA用于激光器频率噪声测试，RINA和FNA由万里眼信号与频谱分析仪和RINA/FNA光座组成，具备业界领先的噪声测试性能。
频谱与信号分析仪：
•110G直出，最大8.4G分析带宽，最大支持2G实时分析带宽
•极低DANL：-169dBm/Hz@1GHz
RINA光座：
•RIN最小可测值-170dB/Hz
FNA光座：
•最大支持500MHz频率噪声分析带宽
光电芯片测试解决方案总结
面向光电芯片及光电/电光/光光器件测试，万里眼提供E2E完整的光模块光电芯片测试解决方案。矢量网络分析仪可用于光模块TIA/Driver测试，光波元件分析仪（矢量网络分析仪+LCA光座）可用于EML/激光器/电光调制器/探测器/无源光器件的频响测试，RINA/FNA（信号与频谱分析仪+光座）可用于激光器的RIN/频率噪声测试。
万里眼67G/110矢量网络分析仪业界领先的高频测试性能实现67G/110G精准、稳定、高效测量；让极限性能测得真、量得准、跑得快、用得稳，业界领先系统测试效率助力客户提升产能，降本增效。
针对O/C/L波段光源配置复杂、高频超宽带调制（逼近100 GHz@200 Gb/lane）下频响测试波动大、测不准等挑战，LCA光座以“丰富光源选项 + 极致测试性能”为核心价值，构建高效、精准的一体化光电测试平台。
万里眼RINA最小可支持-170dB/Hz RIN噪声测试，FNA最大频率噪声分析带宽最大可达500MHz，满足从AI高速互连光模块、相干光到RoF的产品研发、生产和科研需要。
万里眼光电芯片测试解决方案可为客户带来如下价值：
极限测试能力
仪表超高性能指标规格，确保产品极限性能测得真、量得准
高效测试
矢量网络分析仪超高速DDS扫频源+灵活的扫频控制算法，助力超宽带光电芯片高效测试
降低测试复杂度
丰富的波长支持选项，适配更多的测试场景，简化不同器件的测试配置，减少测试调试工作量
