光电芯片测试解决方案
110G矢量网络分析仪业界领先的高频测试性能，LCA丰富的光源选项和极致性，RINA极低的RIN可测值，助力光电芯片测试更高效、精准
趋势与挑战
组网与特点
TIA/Drive测试解决方案
万里眼矢量网络分析可用于光模块TIA/Driver测试解决方案，具备如下特点
高动态
120dB @67 GHz高系统动态范围
高精度
自研去嵌算法降低测量不确定度
高稳定性
温度系数<0.05dB/°C @67G
高测试效率
超高速DDS扫频源+灵活的扫频 控制算法，实现高速扫描： 22mS@201点，10kHz IFBW
客户价值
实现67G/110G精准、稳定、高效测量；让极限性能测得真、量得准、跑得快、用得稳，业界领先系统测试效率助力客户提升产能，降本增效。
总结
面向光电芯片及光电/电光/光光器件测试，万里眼提供E2E完整的光模块光电芯片测试解决方案。
矢量网络分析可用于光模块TIA/Driver测试，光波元件分析仪（矢量网络分析仪+LCA光座）可用于EML/激光器/电光调制器/探测器/无源光器件的频响测试，RINA/FNA（信号与频谱分析仪+光座）可用于激光器的RIN/频率噪声测试。
万里眼67G/110矢量网络分析仪业界领先的高频测试性能实现67G/110G精准、稳定、高效测量；让极限性能测得真、量得准、跑得快、用得稳，业界领先系统测试效率助力客户提升产能，降本增效。
针对O/C/L波段光源配置复杂、高频超宽带调制（逼近100 GHz@200 Gb/lane）下频响测试波动大、测不准等挑战，LCA光座以“丰富光源选项 + 极致测试性能”为核心价值，构建高效、精准的一体化光电测试平台。
万里眼RINA最小可支持-170dB/Hz RIN噪声测试，FNA最大频率噪声分析带宽最大可达500MHz，满足从AI高速互连光模块、相干光到RoF的产品研发、生产和科研需要。
为客户带来真正价值
缩短上市时间
紧跟智算技术发展，率先提供测试解决方案，缩短智算产品上市时间。
集群测试能力
千卡集群测试能力，对智算网络进行远超现网的极限压力测试。
更高速率演进
测试平台支持向更高速率演进，适应智算领域速率的快速迭代，保护客户的核心测试资产投资。
